KnigaRead.com/
KnigaRead.com » Компьютеры и Интернет » Компьютерное "железо" » А. Красько - Схемотехника аналоговых электронных устройств

А. Красько - Схемотехника аналоговых электронных устройств

На нашем сайте KnigaRead.com Вы можете абсолютно бесплатно читать книгу онлайн А. Красько, "Схемотехника аналоговых электронных устройств" бесплатно, без регистрации.
Перейти на страницу:

Аналогичным образом учитывается влияние других разделительных и блокировочных цепей, только для блокировочной эмиттерной цепи постоянная времени приблизительно оценивается величиной τнэ≈Cэ/S0 т.к. сопротивление БТ со стороны эмиттера приблизительно равно 1/S0 (см. подраздел 2.4.1), а влиянием  в большинстве случаев можно пренебречь, т.к. обычно 1/S0<<.

Результирующую АЧХ и ФЧХ каскада в области НЧ можно построить, используя уже упоминавшийся принцип суперпозиции.

В n-каскадном усилителе с одинаковыми каскадами наблюдается эффект сужения полосы рабочих частот, который в области НЧ можно скомпенсировать уменьшением нижней граничной частоты каскадов до .

2.6. Термостабилизация режима каскада на биполярном транзисторе

Параметры БТ в значительной мере подвержены влиянию внешних факторов (температуры, радиации и др.). В то же время, одним из основных параметров усилительного каскада является его стабильность. Прежде всего, важно, чтобы в усилителе обеспечивался стабильный режим покоя.

Проанализируем вопрос влияния температуры на стабильность режима покоя БТ, конкретно — 0.

Существуют три основных фактора, влияющих на изменении 0 под действием температуры: при увеличении температуры, во-первых, увеличивается напряжение Uбэ0, во-вторых, обратный ток коллекторного перехода Iкбо, и, в третьих, возрастает коэффициент H21э.

Рисунок 2.16. Тепловая модель БТ


Для анализа реальный транзистор можно представить в виде идеального, у которого параметры не зависят от температуры, а температурную зависимость смоделировать включением внешних источников напряжения и тока (рисунок 2.16).

 Рассмотрим влияние этих факторов на приращение тока коллектора Δ0. Начнем с влияния изменения Uбэ0, вызванного тепловым смещением проходных характеристик =f(Uбэ), обозначив при этом приращение тока коллектора как Δ01:

Δ01 = S0·ΔUбТ ,

где ΔUбТ — приращение напряжения Uбэ0, равное:

ΔUбТ = |εT|·ΔТ,

где εT — температурный коэффициент напряжения (ТКН),

εT ≈ –3мВ/град., ΔТ — разность между температурой коллекторного перехода перехода Tпер и справочным значением этой температуры Tспр (обычно 25°C):

ΔТ = Tпер – Tспр,

Tпер = Tсред + PкRT,

где и RT соответственно, мощность, рассеиваемая на коллекторном переходе в статическом режиме, и тепловое сопротивление “переход-среда”:

= 0,

Ориентировочное значение теплового сопротивления зависит от конструкции корпуса транзистора и обычно для транзисторов малой и средней мощности лежит в следующих пределах:

RT = (0,1…0,5) град./мВт.

Меньшее тепловое сопротивление имеют керамические и металлические корпуса, большее — пластмассовые.

Отметим, что Δ01 берется положительным, хотя εT имеет знак минус, это поясняется на рисунке 2.17.

Рисунок 2.17. Тепловое смещение проходных характеристик БТ


Определяем приращение тока коллектора Δ02, вызванного изменением обратного (неуправляемого) тока коллектора ΔIкбо:

Δ02 = ΔIкбо·(H21э + 1),

где приращение обратного тока ΔIкбо равно:

ΔIкбо = Iкбо(Tспр)·[exp(αΔT) – 1],

где α — коэффициент показателя, для кремниевых транзисторов α=0,13.

Следует заметить, что значение Iкбо, приводимое в справочной литературе, особенно для транзисторов средней и большой мощности, представляет собой сумму тепловой составляющей и поверхностного тока утечки, последний может быть на два порядка больше тепловой составляющей, и он практически не зависит от температуры. Следовательно, при определении Δ02 следует пользоваться приводимыми в справочниках температурными зависимостями Iкбо, либо уменьшать справочное значение Iкбо примерно на два порядка (обычно Iкбо для кремниевых транзисторов составляет порядка (n·10-7…n·10-6) А, и порядка (n·10-6…n·10-5) А для германиевых, n=(1…9).

Приращение коллекторного тока, вызванного изменением H21э, определяется соотношением:

Δ03 = H21э·(Iкбо + Iб0),

где ΔH21э = kT·H21э·ΔT, kT ≈ 0,005 отн. ед./град.

Полагая, что все факторы действуют независимо друг от друга, запишем:

ΔIк0 = Δ01 + Δ02 + Δ03.

Для повышения термостабильности каскада применяют специальные схемы питания и термостабилизации. Эффективность таких схем коэффициентом термостабильности, который в общем виде представляется как:

ST = ΔIк0 стабIк0.

Учитывая различный вклад составляющих ΔIк0, разное влияние на них элементов схем термостабилизации, вводят для каждой составляющей свой коэффициент термостабильности, получая выражения для термостабилизированного каскада:

ΔIк0 стаб = STIк01+ STIк02 + STIк03.

Обычно ST2≈ST3, что обусловлено одинаковым влиянием на ΔIк02 и ΔIк03 элементов схем термостабилизации:

ΔIк0 стаб = STIк01+ ST2(ΔIк02 + Δ03).

Полученная формула может быть использована для определения ΔIк0 усилительного каскада при любой схеме включения в нем БТ.

Рассмотрим основные схемы питания и термостабилизации БТ.

Термостабилизация фиксацией тока базы. Схема каскада представлена на рисунке 2.18.

Рисунок 2.18. Каскад с фиксацией тока базы


определяется соотношением:

т.к. >>Uбэ0.

Очевидно, что 0 "фиксируется" выбором , при этом ослабляется влияние первого фактора нестабильности тока коллектора (за счет смещения проходных характеристик). Коэффициенты термостабилизации для этой схемы таковы:

Отсюда видно, что данная схема имеет малую эффективность термостабилизации (ST2≈1).

Коллекторная термостабилизация. Схема каскада представлена на рисунке 2.19а.

Рисунок 2.19. Каскад с коллекторной термостабилизацией (а) и его варианты (б, в)


 определяется соотношением:

т.к. 0>>0.

Термостабилизация в этой схеме осуществляется за счет отрицательной обратной связи (ООС), введенной в каскад путем включения  между базой и коллектором БТ. Механизм действия ООС можно пояснить следующей диаграммой:

T⇑⇒Iк0⇒Uк0⇒Iб0⇒Iк0,

Перейти на страницу:
Прокомментировать
Подтвердите что вы не робот:*